Ningbo Zhixing Optical Technology Co., Ltd.
Ningbo Zhixing Optical Technology Co., Ltd.
Nyheder

Nyheder

Vi er glade for at dele med dig om resultaterne af vores arbejde, virksomhedsnyheder og give dig rettidig udvikling og personaleudnævnelse og afskedigelsesbetingelser.
Sådan læser du 1951 USAF Resolution Test Chart?17 2024-07

Sådan læser du 1951 USAF Resolution Test Chart?

1951 USAF (United States Air Force) Resolution Test Chart er et vigtigt værktøj, der bruges inden for optik og billeddannelse til at vurdere opløsningskraften af ​​forskellige billeddannelsessystemer, herunder kameraer, mikroskoper, teleskoper og endda det menneskelige øje. Dette diagram, designet af USAF i 1951, er blevet en industristandard til måling af rumlig opløsning og er bredt anerkendt for dets nøjagtighed og alsidighed. I denne artikel vil vi dykke ned i forviklingerne ved at læse og fortolke 1951 USAF Resolution Test Chart.
Machine Vision Calibration Boards uundværlige rolle17 2024-07

Machine Vision Calibration Boards uundværlige rolle

I det stadigt udviklende landskab af moderne videnskab og teknologi er præcision og nøjagtighed blevet altafgørende faktorer, der driver innovation på tværs af forskellige industrier. Et afgørende værktøj, der sikrer, at disse standarder overholdes, er maskinsynskalibreringskortet. Denne specialiserede mønsterplade tjener som en hjørnesten til kalibrering og måling af en række udstyr, herunder kameraer, videokameraer, laserafstandsmålere, radarer og mere.
Hvad er brugen af ​​optisk mål?16 2024-07

Hvad er brugen af ​​optisk mål?

I optikkens område er præcision og nøjagtighed altafgørende. Uanset om det er at sikre det skarpe fokus på et teleskops linse, kalibrere en laser til præcis skæring eller indfange komplicerede detaljer i medicinsk billedbehandling, er ethvert aspekt af et optisk systems ydeevne afhængig af omhyggelige målinger og justeringer. Det er her det optiske mål, et alsidigt og uundværligt værktøj, kommer i spil.
Hvad er forskellen mellem fotomaske og wafer?16 2024-07

Hvad er forskellen mellem fotomaske og wafer?

I den indviklede verden af ​​mikroelektronikfremstilling spiller fotomasker og wafere centrale roller, men alligevel tjener de forskellige formål inden for den bredere produktionsproces. At forstå de grundlæggende forskelle mellem disse to kritiske komponenter er afgørende for at forstå kompleksiteten ved moderne halvlederfremstilling.
X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept